最近有幾篇文章宣稱,中國(guó)即將在創(chuàng)新方面超越美國(guó)。當(dāng)中國(guó)的制造業(yè)正在迎頭趕上的時(shí)候,這些文章以中國(guó)新增專利申請(qǐng)的數(shù)目為論據(jù),指出中國(guó)在新產(chǎn)品的創(chuàng)意方面也步入了世界級(jí)的殿堂。在《華爾街時(shí)報(bào)》的專欄版上,尼爾·弗格森(Niall Ferguson)發(fā)表了自己的看法:“大家別以為中國(guó)只能在流水線上裝配‘加州設(shè)計(jì)’的產(chǎn)品,這個(gè)國(guó)家正在設(shè)計(jì)上大步邁進(jìn)……2007年,以新增專利申請(qǐng)計(jì),中國(guó)已經(jīng)超越了德國(guó)”。而《經(jīng)濟(jì)學(xué)人》雜志的一篇文章則預(yù)言, 2011年中國(guó)專利申請(qǐng)的數(shù)目將超越其他任何一個(gè)國(guó)家。所以,西恩·斯?fàn)柗鹚鞫鳎⊿ean Silverthorne)這樣寫(xiě)道:“如果光就專利數(shù)目來(lái)看,亞洲的創(chuàng)新能力已經(jīng)蓋過(guò)了西方。”
果真如此嗎?其實(shí),只要對(duì)這些專利數(shù)據(jù)稍加研究,我們就可以得出非常不同的結(jié)論。
首先,眾所周知,拿專利作為創(chuàng)新的衡量標(biāo)準(zhǔn)完全不靠譜。研究表明,大多數(shù)的創(chuàng)新都沒(méi)有申請(qǐng)專利,尤其是在諸如軟件開(kāi)發(fā)等高科技領(lǐng)域。但是,這些問(wèn)題就算忽略不計(jì),那些專利數(shù)目也會(huì)告訴我們中國(guó)離創(chuàng)新前沿還有多遠(yuǎn),請(qǐng)看以下分析:
大量的中國(guó)專利申請(qǐng)都是低價(jià)值,低質(zhì)量的。這篇《經(jīng)濟(jì)學(xué)人》文章也注意到,因?yàn)檎膭?lì)申請(qǐng)專利,“家庭作坊行業(yè)也迅速加入專利申請(qǐng)行列中,但它的價(jià)值卻很可疑”。其中的很多項(xiàng)只是所謂的“實(shí)用模型”專利,這種專利無(wú)須通過(guò)專利局的審核(類似于美國(guó)的“設(shè)計(jì)專利”)。據(jù)北京航空航天大學(xué)研究人員的發(fā)現(xiàn),即使在“創(chuàng)新”專利中,也僅僅只有10%的專利申請(qǐng)人愿意為保有20年的有效期付出低廉的維持費(fèi),可見(jiàn)這些專利根本就不值得為之付費(fèi)。
絕大多數(shù)的中國(guó)專利其實(shí)都屬于海外企業(yè),其目的是為了保護(hù)自己的產(chǎn)品在中國(guó)市場(chǎng)上不受侵權(quán),所以這些專利并非中國(guó)本土企業(yè)的原創(chuàng)。換言之,與其將中國(guó)專利的數(shù)目作為創(chuàng)新程度的衡量標(biāo)準(zhǔn),還不如將之作為中國(guó)市場(chǎng)價(jià)值的衡量標(biāo)準(zhǔn)。
相反,如果中國(guó)的創(chuàng)新者們真的有什么世界級(jí)的創(chuàng)意時(shí),他們多半會(huì)在美國(guó)、歐洲和日本申請(qǐng)專利。但是,在2009年,源自中國(guó)創(chuàng)新者,并由中國(guó)企業(yè)或個(gè)人擁有的專利只占到了美國(guó)實(shí)用專利的0.6%,排在世界前沿的中國(guó)創(chuàng)新專利擁有者可謂鳳毛麟角。
其他亞洲國(guó)家,比較突出的日本,在美國(guó)獲得的專利就多得多。去年,日本創(chuàng)新者獲得了21.5%的美國(guó)專利,居海外創(chuàng)新者份額之首。自20世紀(jì)80年代以來(lái),日本的美國(guó)專利份額一直穩(wěn)固在這個(gè)水平,即便有如此出色的成績(jī),也沒(méi)有什么人跳出來(lái)聲稱日本將超越美國(guó)。
當(dāng)然,中國(guó)在很短的時(shí)間里走過(guò)了一條漫長(zhǎng)的道路,中國(guó)的制造業(yè)已經(jīng)躋身世界一流之列,在創(chuàng)新方面的改進(jìn)也初露端倪。但是,通過(guò)對(duì)專利數(shù)據(jù)的仔細(xì)分析,我們可以看到的是今天中國(guó)和西方在創(chuàng)新方面的巨大差距,只要你用心看,數(shù)據(jù)是不會(huì)騙人的。
作者:James Bessen is Lecturer in Law at Boston University School of Law and a Fellow at Harvard's Berkman Center, and is a former software innovator and CEO. With Michael Meurer, he wrote Patent Failure: How Judges, Bureaucrats, and Lawyers Put Innovators at Risk.
翻譯:余彬